近日，關(guān)于手機(jī)中SIM卡損壞的現(xiàn)象引起了廣泛關(guān)注。不少用戶(hù)反映，他們的SIM卡在沒(méi)有明顯外力作用下，竟然出現(xiàn)了損壞，導(dǎo)致手機(jī)失去信號(hào)。

一位用戶(hù)分享了他的經(jīng)歷，他在市中心行走時(shí)，手機(jī)突然無(wú)法搜索到信號(hào)。前往營(yíng)業(yè)廳咨詢(xún)后，工作人員告訴他，SIM卡因使用時(shí)間過(guò)長(zhǎng)而損壞，更換新卡后，手機(jī)功能立即恢復(fù)正常。這一遭遇并非個(gè)例，網(wǎng)絡(luò)上有多位用戶(hù)表示，他們的手機(jī)在使用中也出現(xiàn)了類(lèi)似情況，SIM卡無(wú)故損壞。

值得注意的是，一些iPhone用戶(hù)在OTA（Over-The-Air，空中下載技術(shù)）更新系統(tǒng)后，也遇到了SIM卡損壞的問(wèn)題。其中，知名數(shù)碼博主康總@kang也在社交媒體上吐槽了這一現(xiàn)象。

面對(duì)SIM卡損壞的疑問(wèn)，專(zhuān)家指出，盡管SIM卡看似只是一張簡(jiǎn)單的卡片，但其工作原理與手機(jī)主板上的芯片和元件并無(wú)本質(zhì)區(qū)別。SIM卡背面的金屬塊實(shí)際上是它的接口，用于與手機(jī)主板進(jìn)行通信，并由手機(jī)提供電源。

根據(jù)國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織和國(guó)際電工委員會(huì)的規(guī)定，SIM卡的供電標(biāo)準(zhǔn)包括1.8V、3.3V和5V三種電壓等級(jí)。如果手機(jī)錯(cuò)誤地將高電壓供給低電壓等級(jí)的SIM卡，就可能導(dǎo)致SIM卡損壞。在手機(jī)系統(tǒng)OTA升級(jí)過(guò)程中，如果涉及SIM卡供電和通信部分的固件更新，確實(shí)存在因電壓錯(cuò)誤導(dǎo)致SIM卡損壞的風(fēng)險(xiǎn)。

然而，這種情況的發(fā)生概率并不高，手機(jī)制造商在多年的發(fā)展中已經(jīng)對(duì)此類(lèi)問(wèn)題進(jìn)行了諸多優(yōu)化。專(zhuān)家推測(cè)，OTA更新系統(tǒng)時(shí)手機(jī)發(fā)熱也可能是導(dǎo)致SIM卡損壞的原因之一，尤其是SIM卡槽位置靠近主板發(fā)熱區(qū)域的手機(jī)，風(fēng)險(xiǎn)可能更大。

除了上述原因，SIM卡長(zhǎng)期使用后，接觸部分金手指氧化也可能導(dǎo)致接觸不良，進(jìn)而影響與手機(jī)的通信。當(dāng)手機(jī)與SIM卡的通信失敗時(shí)，無(wú)法通過(guò)基站的身份驗(yàn)證，從而導(dǎo)致手機(jī)失去信號(hào)。

遇到SIM卡損壞的情況，用戶(hù)無(wú)需過(guò)于擔(dān)心，只需前往營(yíng)業(yè)廳補(bǔ)辦新卡即可。為了徹底解決SIM卡長(zhǎng)期使用后可能出現(xiàn)的問(wèn)題，業(yè)界正期待著eSIM技術(shù)的普及。eSIM是一種嵌入式SIM卡技術(shù)，無(wú)需實(shí)體卡片，可以降低因物理接觸導(dǎo)致的故障率。

盡管eSIM芯片也可能出現(xiàn)故障，如接觸不良、焊點(diǎn)氧化等問(wèn)題，但據(jù)業(yè)內(nèi)人士透露，這些問(wèn)題出現(xiàn)的概率遠(yuǎn)低于實(shí)體SIM卡槽的故障率。對(duì)于消費(fèi)者而言，希望eSIM技術(shù)的普及能夠減少SIM卡損壞的煩惱，提升使用體驗(yàn)。